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Informe técnico: "Vertical Focus Probing"

La tecnología Vertical Focus Probing (VFP), exclusiva de Bruker ALICONA, permite la medición óptica de componentes con superficies completamente verticales.


La medición se realiza de forma análoga a como lo hace una máquina de coordenadas clásica.


Por fin es posible combinar en una sola medida las ventajas y prestaciones de una MMC con las de un sistema óptico de gran resolución.


La tecnología Vertical Focus Probing permite medir ópticamente las características de:

✔ Agujeros

✔ Taladros

✔ Superficies de referencia

✔ Contornos

✔ Longitudes pared a pared

✔ Etc.


Todo ello con alta precisión, alta resolución y tiempos de medición cortos.


De utilidad para una amplia gama de aplicaciones en metrología industrial como la industria de herramientas, la fabricación de precisión, industria automotriz y el sector aeroespacial.


Un paso más allá en la medición óptica 3D por Variación de Foco.


Descargue el informe técnico para conocer con mayor profundidad las capacidades de la tecnología Vertical Focus Probing (VFP).

¿Quiere descargar el informe técnico sobre la tecnología "Vertical Focus Probing"?

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