Beneficios

Mejora de las capacidades SEM

AFM en SEM mejora las capacidades de ambas técnicas , lo que permite el análisis de muestras complejas de propiedades eléctricas , mecánicas y magnéticas dentro de SEM.

Máxima precisión de imágenes correlativas

La exclusiva tecnología de sonda correlativa y microscopía electrónica ( CPEM ) permite la adquisición y correlación simultáneas de los canales SEM y AFM elegidos . 

Localización rápida y fácil de la región de interés

SEM ayuda a localizar rápidamente la región de interés y a navegar con precisión por la punta AFM.

Análisis in situ: sin riesgo de contaminación de la muestra 

Las condiciones in situ dentro del SEM aseguran el análisis de muestras al mismo tiempo , en el mismo lugar y bajo las mismas condiciones . 

Extensión de imagen SEM 2D a 3D

El contraste del material SEM se ve mejorado por la información sobre la topografía y la rugosidad 3D sub-nanométricas .